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臺(tái)式余氯測(cè)定儀通過(guò)特定試劑與水樣中余氯發(fā)生顯色反應(yīng),結(jié)合光學(xué)檢測(cè)實(shí)現(xiàn)余氯濃度定量分析,其檢測(cè)精度與穩(wěn)定性易受使用環(huán)境因素影響。為保障儀器性能、減少檢測(cè)誤差,需從溫度、濕度、光照、氣壓、環(huán)境潔凈度及電磁干擾等方面,嚴(yán)格控制使用環(huán)境條件,為儀器運(yùn)行與檢測(cè)過(guò)程創(chuàng)造適宜環(huán)境。 
溫度是影響試劑反應(yīng)與儀器光學(xué)系統(tǒng)穩(wěn)定性的核心因素。余氯檢測(cè)所用顯色試劑的反應(yīng)速率、反應(yīng)平衡及有色化合物穩(wěn)定性,均與溫度密切相關(guān):溫度過(guò)高可能加速試劑分解,導(dǎo)致顯色反應(yīng)不完全或有色化合物褪色;溫度過(guò)低則會(huì)減緩反應(yīng)速率,延長(zhǎng)檢測(cè)耗時(shí)且可能降低反應(yīng)靈敏度。同時(shí),儀器光學(xué)系統(tǒng)中的光源、檢測(cè)器等元件對(duì)溫度變化敏感,溫度波動(dòng)會(huì)影響光信號(hào)強(qiáng)度與檢測(cè)精度。因此,儀器使用環(huán)境溫度需控制在 15-30℃,且需避免溫度驟升驟降,可通過(guò)實(shí)驗(yàn)室空調(diào)系統(tǒng)維持環(huán)境溫度穩(wěn)定,禁止將儀器放置在靠近熱源(如暖氣、烤箱)或冷源(如空調(diào)出風(fēng)口、冷藏柜)的位置。 濕度控制是防止儀器電路故障與光學(xué)部件損壞的關(guān)鍵。潮濕環(huán)境易導(dǎo)致儀器內(nèi)部電路受潮短路,引發(fā)元件故障;同時(shí),高濕度可能使光學(xué)鏡片(如光源窗口、比色皿座)表面凝結(jié)水汽或滋生霉菌,阻礙光信號(hào)穿透,影響吸光度測(cè)量準(zhǔn)確性。此外,潮濕環(huán)境還可能導(dǎo)致試劑吸潮變質(zhì),影響顯色效果。因此,使用環(huán)境相對(duì)濕度需保持在 30%-70%,當(dāng)環(huán)境濕度超出范圍時(shí),可通過(guò)除濕機(jī)或加濕器調(diào)節(jié),避免在陰雨天氣或潮濕的實(shí)驗(yàn)室角落使用儀器,同時(shí)需定期檢查儀器內(nèi)部是否有受潮跡象。 光照條件需嚴(yán)格控制以避免干擾顯色反應(yīng)與光學(xué)檢測(cè)。部分余氯檢測(cè)試劑及反應(yīng)生成的有色化合物對(duì)光敏感,長(zhǎng)時(shí)間暴露在強(qiáng)光(如陽(yáng)光直射、強(qiáng)熒光燈)下易發(fā)生光解,導(dǎo)致有色化合物濃度降低,進(jìn)而造成檢測(cè)結(jié)果偏低。同時(shí),強(qiáng)光直射儀器光學(xué)系統(tǒng),可能產(chǎn)生雜散光干擾,影響檢測(cè)器對(duì)目標(biāo)光信號(hào)的捕捉精度。因此,儀器需放置在無(wú)陽(yáng)光直射、光線柔和且穩(wěn)定的環(huán)境中,若實(shí)驗(yàn)室光線較強(qiáng),可使用遮光板或窗簾遮擋,確保檢測(cè)過(guò)程中試劑與反應(yīng)液處于避光狀態(tài)。 氣壓與環(huán)境潔凈度同樣需滿足基礎(chǔ)要求。大氣壓劇烈變化可能影響儀器內(nèi)部氣流穩(wěn)定(部分儀器含氣路設(shè)計(jì)),雖對(duì)臺(tái)式余氯測(cè)定儀影響較小,但仍需避免在氣壓驟變的環(huán)境(如靠近高壓排氣口、通風(fēng)櫥強(qiáng)排風(fēng)區(qū)域)使用,以防間接影響檢測(cè)穩(wěn)定性。環(huán)境潔凈度方面,實(shí)驗(yàn)室空氣中若含大量灰塵、腐蝕性氣體(如氯氣、二氧化硫),易附著在儀器表面、光學(xué)鏡片及比色皿上,不僅污染樣品與試劑,還可能腐蝕儀器部件、影響光路通暢。因此,使用環(huán)境需保持清潔,定期打掃實(shí)驗(yàn)室,避免在粉塵較多或有腐蝕性氣體產(chǎn)生的實(shí)驗(yàn)區(qū)域(如化學(xué)消解實(shí)驗(yàn)臺(tái)附近)放置儀器,必要時(shí)可在儀器外罩防塵罩(非工作狀態(tài)時(shí))。 此外,需避免儀器受電磁干擾影響。臺(tái)式余氯測(cè)定儀內(nèi)置微處理器與電子元件,若周圍存在強(qiáng)電磁輻射源(如大功率電機(jī)、高頻發(fā)生器、強(qiáng)磁場(chǎng)設(shè)備),可能干擾儀器電路信號(hào)傳輸與數(shù)據(jù)處理,導(dǎo)致檢測(cè)數(shù)據(jù)波動(dòng)或儀器故障。因此,儀器需遠(yuǎn)離上述電磁干擾源,確保與干擾設(shè)備的距離不小于 1 米,保障儀器電路系統(tǒng)穩(wěn)定運(yùn)行,提升檢測(cè)結(jié)果的可靠性。
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